Ensayos Eléctricos de componentes

Se trata de aquellos ensayos que se realizan en dispositivos pasivos. Gracias a las más novedosas intstalaciones y equipos, en Alter Technology tenemos la capacidad de caracterizar la comportamiento eléctrico de las resistencias, condensadores, bobinas, sensores de temperatura, relés, conectores, etc., en una amplia gama de condiciones de ensayos y de acuerdo con sus especificaciones aplicables, así como las necesidades del proyecto.

• Medición y ensayo de dispositivos de alta potencia
• Dieléctrico soportando un voltaje de hasta 12 KV.
• Caracterización en dispositivos LCR hasta 3 GHz.

• Dispositivos activos, desde los discretos (diodos y TRT) hasta los lineales y digitales estándar hasta que los componentes del VLSI, puedan ser probados.
• Trazadores de curvas de semiconductores B 1505 HP 4156 HP 4155 HP 4145 etc.
• Unidades del medidor de la fuente Keithley 2636 2425 2651 2657 etc.
• SSA Analizador de fuentes de señales E 5052 etc.
• Osciloscopios de hasta 12 GHz y 40 GSa /s
• Señal mixta ATE Ultraflex de Teradyne, ATX 7006 de Applicos etc.
• Capacidad de prueba a temperaturas extremas (200 ºC a 200 ºC)

• Diseño y fabricación de tableros multicapa (hasta 16 capas).
• Medición de la corriente de pequeño sesgo ( fA)
• Medición de alta velocidad y precisión de los convertidores A/D y D/A hasta 24 bits.
• Medición de +1000 dispositivos digitales de E/S.
• Medición de la señal mixta ASIC.
• Osciladores de alta precisión con medición de ruido de fase baja.
• Dispositivo de prueba de hasta 100 Vcc.
• El dispositivo prueba hasta 140 A.