Ensayos Físicos Internos en Componentes eléctricos

Visual interno

Se dispone de una amplia gama de instrumentos ópticos, con diferentes técnicas de iluminación, campo brillante / campo oscuro, polarizador, analizador, contraste de interferencia diferencial para realizar diferentes ensayos:

  • SEM
  • Microscopía Acústica y C SAM
  • Ensayos micromecánicos: tirar de la unión, morir cizalla,..
  • Sección transversal y análisis metalúrgico
  • Verificación del ensamblaje de soldadura SMT y TH

Inspección dinámica de Rayos X 2D y 3D

  • No detección destructiva de defectos internos (construcción o manipulación)
  • Objetos extraños
  • Cables de interconexión inadecuados
  • Los vacíos en el material de fijación de la matriz
  • Etc…

rayos X 3D y 2D

Microscopía Acústica de Exploración – SAM

SAM, un complemento de técnica no destructiva a los rayos X que permite la inspección y análisis de fallos de los componentes electrónicos y materiales.

Se basa en la reflexión experimentada por ondas acústicas en la interfaz entre diferentes que permiten identificar:

  • Delaminaciones
  • Vacíos, burbujas, porosidad
  • Grietas
  • Partículas, materiales extraños, etc.

SAM

SAM.

Microscópicos Electrónicos de Exploración

Ensayos de SEM está disponible con un alto rango de aumento, un campo de profundidad y varias observaciones modos de analizar los defectos de diseño, construcción o manejo. Puede ser usado para comprobar la metalización de la interconexión en la cobertura del paso de metal del circuito integrado, etc. o para realizando un estudio tecnológico profundo de ingeniería inversa, corte transversal de los troqueles, análisis de fallos, etc.

MICROSCOPIOS ELECTRoNICOS

Termografía de Infrarrojos

  • La cámara de infrarrojos FLIR con una sensibilidad térmica < 50 mK es capaz de capturar altas imágenes térmicas de calidad con detalles sobre la información de la diferencia de temperatura.
  • Esta técnica le permite afinar su desarrollo, evita errores de diseño,garantizar la calidad del producto y aumentar su fiabilidad.

Termografia de Infrarrojos

ALTER TECHNOLOGY

Madrid
c/ de la Majada, 3
28760 Tres Cantos – Madrid (ESPAÑA)

Telf. 918041893